Sommaire

Description

Les systèmes électroniques embarqués et leurs logiciels associés sont omniprésents dans un nombre sans cesse croissant d'applications de la vie courante, industrielles et gouvernementales. La sécurité de ces systèmes est un enjeu sociétal, économique et de souveraineté majeure. Ce besoin se traduit par des activités en recherche et développement de plus en plus importantes par les scientifiques, les industriels et les services gouvernementaux, et ceci particulièrement dans la région rennaise qui héberge de nombreux acteurs du domaine.

D'une manière générale, le séminaire portera sur l'étude, l'analyse et l'évaluation des performances et de sécurité, la validation, et les aspects réglementaires des différents éléments des systèmes électroniques embarqués sécurisés. Tous ces points seront abordés théoriquement et/ou expérimentalement. Parmi les différentes thématiques abordées lors du séminaire on trouve : les briques de base et les composants sur circuits électroniques (FPGA, ASIC, cartes à puce, microcontrôleurs), leurs logiciels embarqués, les primitives cryptographiques, crypto-processeurs, accélérateurs de calculs cryptographiques, stockage sécurisé, liens de communication sur puce sécurisés, etc. On trouve aussi la conception d'architectures sécurisées et la conception conjointe matérielle/logicielle, les performances des implantations, les mécanismes de sécurité (contre-mesures actives et passives, sécurisation des systèmes de test de circuits, sécurisation des mémoires, sécurisation des communications sur puce, etc.), les attaques par canaux cachés/auxiliaires et injection de fautes, les méthodes et d'outils de rétro-conception, et les outils de CAO et formels pour l'électronique (en phase de conception ou en phase de test.

  • Le comité scientifique est en charge de l’organisation et de la programmation du séminaire.
    Il est composé des personnes suivantes :

Chaque séance du séminaire sera composée de deux présentations de 45 minutes suivies, chacune, d’une séance de questions pour un créneau total d’une heure par orateur.
Si le besoin s’en fait sentir, le comité scientifique pourra proposer deux exposés courts de 25 minutes en lieu et place d’une présentation standard.
Étant donné que le séminaire a une vocation pluridisciplinaire, il est souhaitable que l’orateur prenne le temps de motiver la problématique qu’il étudie et l’explique dans le langage le plus clair possible.

Infos pratiques

Prochains exposés

  • Securing processor's microarchitecture against SCA in a post-quantum cryptography setting

    • 16 octobre 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Vincent MIGLIORE - LAAS-CNRS

    Hardware microarchitecture is a well-known source of side-channel leakages, providing a notable security reduction of standard cryptographic algorithms (e.g. AES) if not properly addressed by software or hardware. In this talk, we present new design approaches to harden processor's microarchitecture against power-based side-channel attacks, relying on configurable and cascadable building blocks[…]

    • SemSecuElec

    • Side-channel

    • Micro-architectural vulnerabilities

  • Onysis: A secure European SoC FPGA 

    • 13 novembre 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Adrien GRASSEIN - Nanoxplore

    Developed in collaboration with the DGA, the Onysis project introduces a European SoC FPGA designed to embed advanced hardware security features. This presentation will provide an overview of the Onysis architecture, focusing specifically on its native mechanisms to protect critical systems. We will detail the implementation of its integrated security subsystem, covering the secure boot sequence[…]

    • SemSecuElec

  • Using High Level Profiling Data to Early Assess the Fault Tolerance of Complex Digital Components

    • 13 novembre 2026 (11:00 - 12:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Luc NOIZETTE - Nuclétudes (filiale Ariane group)

    This presentation outlines an innovative methodology for estimating the fault tolerance of complex components based on application profiling obtained using a high-level virtual platform.  A derating factor, derived exclusively from profiling metrics (e.g., lifetime in memory and registers), is calibrated using a reliability dataset collected from a set of benchmarks.  Applying it to test softwares[…]

    • SemSecuElec

    • Fault injection

Exposé passé

Security of Smart Dust: Robust Key Derivation for Single-Chip Systems

  • 26 juin 2026 (11:00 - 12:00)

  • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

Orateur : Sara Faour - Inria

The Smart Dust vision seeks to enable large networks of millimeter-scale wireless sensor nodes that tightly integrate sensing, computation, communication, and power management into a single-chip device. Establishing a robust hardware root of trust for such devices remains challenging, particularly in single, low-cost chip manufacturing processes that lack embedded writable Non-Volatile Memory (NVM[…]

  • SemSecuElec

  • PUF

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