Sommaire

  • Cet exposé a été présenté le 29 mai 2026 (11:00 - 12:00).

Description

  • Orateur

    Eloise Delolme - LabHC

Les générateurs de nombres aléatoires matériels basés sur des oscillateurs en anneau (RO-TRNGs) exploitent le jitter d’horloge comme source d’aléa afin de produire des séquences de bits aléatoires. Parmi ces architectures, le MURO-TRNG repose sur un modèle stochastique complexe qui suppose notamment l’indépendance des oscillateurs. Toutefois, dans la pratique, les oscillateurs en anneau sont sensibles à leur environnement (tension d’alimentation, température, logique environnante, couplages physiques, etc.), ce qui peut modifier leur fréquence d’oscillation libre et conduire au verrouillage des oscillateurs, remettant en cause cette hypothèse fondamentale.

 

Cette présentation reprend d'un côté les principaux résultats de l'étude empirique permettant d'identifier les facteurs favorisant l'apparition du verrouillage afin d'établir des recommandations d'implantation. 

D'un autre côté, une nouvelle métrique de détection est proposée afin de pallier les limitations des métriques issus de l'état de l'art. La notion d'influence mutuelle, plus large que le verrouillage total, est introduite. La métrique vérifie l'uniformité des différences de phases sur la période grâce à un test statistique d'adéquation à une loi uniforme. Elle permet de détecter avec précision des rapports de fréquences défavorables à la génération d'aléa, qu'ils soient présent dès la conception ou qu'ils résultent d'une dégradation suite à une attaque ou une influence mutuelle d'origine physique.

Enfin, la faisabilité de l'embarquement de cette méthode est étudiée. Une solution basée sur le lemme d'empilement est proposée, permettant une détection efficace des phénomènes d'influence mutuelle et des rapports de fréquences problématiques pour la génération d'aléa entre différentes paires d'oscillateurs échantillonnés.

Présentation en Français (slides en Anglais) 

Talk in French (slides in English)

Prochains exposés

  • Securing processor's microarchitecture against SCA in a post-quantum cryptography setting

    • 16 octobre 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

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    Hardware microarchitecture is a well-known source of side-channel leakages, providing a notable security reduction of standard cryptographic algorithms (e.g. AES) if not properly addressed by software or hardware. In this talk, we present new design approaches to harden processor's microarchitecture against power-based side-channel attacks, relying on configurable and cascadable building blocks[…]
    • SemSecuElec

    • Side-channel

    • Micro-architectural vulnerabilities

  • Onysis: A secure European SoC FPGA 

    • 13 novembre 2026 (10:00 - 11:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

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    Developed in collaboration with the DGA, the Onysis project introduces a European SoC FPGA designed to embed advanced hardware security features. This presentation will provide an overview of the Onysis architecture, focusing specifically on its native mechanisms to protect critical systems. We will detail the implementation of its integrated security subsystem, covering the secure boot sequence[…]
    • SemSecuElec

  • Using High Level Profiling Data to Early Assess the Fault Tolerance of Complex Digital Components

    • 13 novembre 2026 (11:00 - 12:00)

    • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

    Orateur : Luc NOIZETTE - Nuclétudes (filiale Ariane group)

    This presentation outlines an innovative methodology for estimating the fault tolerance of complex components based on application profiling obtained using a high-level virtual platform.  A derating factor, derived exclusively from profiling metrics (e.g., lifetime in memory and registers), is calibrated using a reliability dataset collected from a set of benchmarks.  Applying it to test softwares[…]
    • SemSecuElec

    • Fault injection

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