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11 résultats

• • Séminaire

  • SemSecuElec

  Using High Level Profiling Data to Early Assess the Fault Tolerance of Complex Digital Components

  • 13 novembre 2026 (11:00 - 12:00)

  • IETR - University of Rennes - Campus de BEAULIEU - Bâtiment 11D, salle numéro 18

  Orateur : Luc NOIZETTE - Nuclétudes (filiale Ariane group)

  This presentation outlines an innovative methodology for estimating the fault tolerance of complex components based on application profiling obtained using a high-level virtual platform.  A derating factor, derived exclusively from profiling metrics (e.g., lifetime in memory and registers), is calibrated using a reliability dataset collected from a set of benchmarks.  Applying it to test softwares[…]

  • SemSecuElec

  • Fault injection

• • Séminaire

  • Bases de données

  • Apprentissage machine

  • Économie

  • Droit

  • Stratégie

  • Contrôle de flux d'information

  TBA

  • 11 décembre 2026 (09:00 - 10:00)

  • Inria Center of the University of Rennes

• • Séminaire

  • Bases de données

  • Apprentissage machine

  • Économie

  • Droit

  • Stratégie

  • Contrôle de flux d'information

  TBA

  • 29 mars 2027 (09:00 - 10:00)

  • Inria Center of the University of Rennes

• • Séminaire

  • Bases de données

  • Apprentissage machine

  • Économie

  • Droit

  • Stratégie

  • Contrôle de flux d'information

  TBA

  • 09 avril 2027 (09:00 - 10:00)

  • Inria Center of the University of Rennes

• • Séminaire

  • Bases de données

  • Apprentissage machine

  • Économie

  • Droit

  • Stratégie

  • Contrôle de flux d'information

  TBA

  • 21 mai 2027 (09:00 - 10:00)

  • Inria Center of the University of Rennes